Найновіший інструмент в серії ZSX для науки, ZSX Primus наслідує традицію своєчасного надання точних результатів з неперевершеною надійністю, гнучкістю та простотою, що підходить для різних завдань сучасних лабораторій. Оскільки досвід науки постійно перевищує очікування користувачів, ZSX Primus став першим вибором для всіх рентгенівських продуктів.

Найновіший інструмент в серії ZSX для науки, ZSX Primus наслідує традицію своєчасного надання точних результатів з неперевершеною надійністю, гнучкістю та простотою, що підходить для різних завдань сучасних лабораторій. Оскільки досвід науки постійно перевищує очікування користувачів, ZSX Primus став першим вибором для всіх рентгенівських продуктів.
ZSX Primus забезпечує гнучкий аналіз складних зразків. 30 мкм ультратонка вікняна трубка, яка забезпечує чутливість до аналізу легких елементів. Найсучасніші пакети картування дозволяють виявляти гомогенності та переміщення. ZSX Primus повністю обладнаний для вирішення лабораторних проблем 21-го століття.

Особливості:

• Діапазон аналізу: Be-U

• Менша площа

• Мікрозональний аналіз

• Дизайн нижче

• 30 мкм тонке вікно

• Mapping: розподіл елементів

• He герметичні: камера зразків завжди знаходиться в вакуумному середовищі

ZSX Primus

Rigaku ZSX Primus забезпечує швидке кількісне вимірювання основних і вторинних атомних елементів від берілію (Be) до урану (U) з широким спектром зразків - за мінімальними стандартами.

Потужний, гнучкий та надійний аналіз елементів

Як найновіший інструмент серії Rigaku ZSX, ZSX Primus продовжує традицію надання точних результатів своєчасно та безперервно, щоб вирішити будь-які проблеми сучасних лабораторій з надійністю, гнучкістю та простотою використання.

Низька продуктивність Z з мапуванням та багатотоковим аналізом

ZSX Primus має надзвичайну продуктивність та гнучкість, здатність аналізувати найскладніші зразки, має трубу розміром 30 мікронів, найтоншу в галузі термінальну вікнову трубу для виявлення надзвичайно низьких спектральних елементів (низький Z). В поєднанні з найсучаснішими пакетами тестування для виявлення рівномірності та обхватності, ZSX Primus дозволяє легко детально розслідувати зразки, щоб надати аналітичні уявлення, які не легко отримати іншими методами аналізу. Доступний багатотоковий аналіз також допомагає усунути помилки відбору зразків у нерівномірних матеріалах.

Основні параметри SQX за допомогою програмного забезпечення EZ-scan

EZ-сканування дозволяє користувачеві аналізувати невідомі зразки без попереднього налаштування. Функція економії часу займає лише кілька кліків миші і введіть назву зразка. У поєднанні з програмним забезпеченням для базових параметрів SQX він може надати найбільш точні та швидкі результати XRF. SQX автоматично коригує всі матричні ефекти, включаючи перекриття ліній. SQX також коригує ефект вторинного стимулювання фотоелектронів (світла та ультралегких елементів), різних атмосфер, забруднень та різних розмірів зразка. Використання бібліотеки відповідності та ідеального аналізу сканування дозволяє підвищити точність.

Особливості

• Елементарний аналіз від Be до U

• Мала площа, обмежене використання лабораторного простору

• Мікроаналіз для аналізу зразків до 500 мкм

• Конструкція під трубою оптимізована для рідких та розпущених порошків

• 30 мкм труби забезпечують видатні легкі елементи

• Елементний ландшафт / розподіл функцій картування

• Гелійне герметизація означає, що оптичні пристрої завжди знаходяться в вакуумному стані

•