Рентгенівська трубка розташована над аналізованим зразком, що мінімізує ризик пошкодження фототрубки порошком, що плаває в вакуумній камері, і не вимагає використання клеїв під час аналізу порошкового зразка, що робить підготовку зразка більш швидкою і простою.
Можна безпосередньо перемикати швидкість вакууму та вакууму при повільній та швидкій швидкості, щоб оптимально обробляти зразки порошку та металу.

Особливості

• Висока точність аналізу різних вмістів різних елементів порошків та твердих зразків

• Висока точність позиціонування зразків відповідає вимогам до високої точності аналізу сплавів

• Спеціальні оптичні системи зменшують помилки, викликані нерівною поверхнею зразка

• Збірка кімнати може бути легко видалена для зручного очищення

• Простий і високо автоматизований інтерфейс

ZSX Primus III +

Rigaku ZSX Primus III + швидко кількісно вимірює основні та вторинні атомні елементи від кисню (O) до урану (U) в різних типах зразків за невеликими критеріями.

Вища надійність, ніж труби з оптичними компонентами

ZSX Primus III + має інноваційну оптику вищезгаданої конфігурації. Завдяки обслуговуванню кімнати зразків більше не потрібно турбуватися про забруднений шлях променя або час простоїв. Геометрія над оптичним елементом усунула проблеми з чисткою і подовжила час використання.

Висока точність позиціонування зразків

Висока точність позиціонування зразка забезпечує постійну відстань між поверхнею зразка та рентгенівською трубою. Це важливо для застосувань, які вимагають високої точності, таких як аналіз сплавів. ZSX Primus III + використовує унікальну оптичну конфігурацію для високоточного аналізу, призначену для мінімізації помилок, викликаних нерівними поверхнями в зразку, такими як плавлені шарики та стиснені частинки

Основні параметри SQX за допомогою програмного забезпечення EZ-scan

EZ-сканування дозволяє користувачеві аналізувати невідомі зразки без попереднього налаштування. Функція економії часу займає лише кілька кліків миші і введіть назву зразка. У поєднанні з програмним забезпеченням для базових параметрів SQX він може надати найбільш точні та швидкі результати XRF. SQX автоматично коригує всі матричні ефекти, включаючи перекриття ліній. SQX також коригує ефект вторинного стимулювання фотоелектронів (світла та ультралегких елементів), різних атмосфер, забруднень та різних розмірів зразка. Використання бібліотеки відповідності та ідеального аналізу сканування дозволяє підвищити точність.

Особливості

• Аналіз елементів від O до U

• Оптика над трубопроводом мінімізує забруднення

• Мала площа, обмежене використання лабораторного простору

• Висока точність позиціонування зразків

• Спеціальні оптичні компоненти зменшують помилки, викликані поверхнею вигнутого зразка

• Програмні інструменти статистичного управління процесами (SPC)

• Пропускна здатність оптимізує швидкість евакуації та вакуумного витоку