Призма &Призма EXБагатофункціональний вакуумний електронний мікроскоп для аналізу вольфрамових дротів

• Справді багатоцільний лабораторний сканувальний електронний мікроскоп SEM з повною продуктивністю та легкістю управління вольфрамовими дротами
• Є унікальний ESEM ™ Екологічний вакуумний режим
• Високо-вакуумний, низьковакуумний та ESEM ™ Навколишній вакуум Три режими вакууму, підходять для аналізу найширшого спектру зразків, діапазон зразків включає електропроводжуючі матеріали, непроводжуючі матеріали, дегазування, непокриття або інші зразки, які не застосовуються для вакууму.
• Серія інтегрованого програмного забезпечення для аналізу в режимі реального часу для динамічного аналізу експериментального виявлення.
• Низький вакуум та навколишній вакуум ESEM дозволяють задовольнити аналіз виявлення непроводних матеріалів та податкових зразків
• Функція in situ дозволяє отримати надійні результати аналізу навіть ізольованих або високотемпературних зразків.
• Підтримуючи попереднє налаштування перед скануванням, камери з навігацією та функціями SmartScanTM підвищують продуктивність роботи, якість даних та відповідають більш високим вимогам до використання.
• Аналіз на місці в температурному діапазоні від -165°C до 1400°C
• Прискорення напруги: 200 В - 30 кВ
• Електронне збільшення: 6x – 1,000,000x (можливість одночасного отримання та відображення чотирьох зображень)
• Детектор: секундарний електронний детектор Everhart-Thomley в високовакуумному режимі (E-T SED); низьковакуумний SE-детектор (LVD); ESEM Екологічний вакуумний режим газового вторинного електронного детектора (GESD); Інфрачервона камера CCD
• Вакуумна система: 1 250 л / с турбомолекулярний насос, 1 ротаційний механічний насос; запатентована вакуумна система диференційного тиску «через лінзи»; Вихлопний час ≤3.5min до високого вакууму, ≤4.5min до ESEM вакууму / низького вакууму; Опціональна холодна пастка CryoCleaner; Додатковий модернізація до безнафтових каток / сухих PVP
• Кімната зразків:

Внутрішній діаметр 340 мм

Робоча відстань аналізу 10 мм

o 12 додаткових інтерфейсів

Кут захоплення EDS: 35°

• Розвільна здатність:

高真空模式

• 3,0 нм @ 30 кВ (SE)
• 4,0 нм @ 30 кВ (BSE)*
• 8,0 нм @ 3 кВ (SE)

Режим сповільнення при високому вакуумі

• 7,0 нм @ 3 кВ

Режим низького вакууму

• 3,0 нм @ 30 кВ (SE)
• 4,0 нм @ 30 кВ (BSE)
• 10 нм @ 3 кВ (СЕ)

• ESEM Екологічний вакуум
  • 3,0 нм @ 30 кВ (SE)